Physik Gö Uni Gö
Universität Göttingen
IMP


CM 30

Raster-Transmissions-Elektronenmikroskop
Scanning Electron Microscope (SEM)





Rasterelektronenmikroskop
  • 300 kV Beschleunigungsspannung
  • LaB6 Kathode
  • Probenkippung 60
  • CCD Kamera
  • Probenhalter:
        - Doppelkipphalter
        - FIM Spitzenhalter
        - Zughalter
        - Heizhalter